Chroma 19501 - K局部放电测试器内建交流 耐电压测试(Hipot Test)与局部放电(Partial D i s c h a r g e, P D) 侦测功能于一单机， 提供 交 流 电 压 输 出 0 . 1 k V ~ 1 0 k V ， 漏 电 流 测 量范 围 0 . 0 1 µ A ~ 3 0 0 µ A ， 局 部 放 电 侦 测 范 围 1pC~2000pC，针对高压半导体元件与高绝缘材 料测试应用所设计与开发。

　　Chroma 19501-K局部放电测试器产品设计符 合IEC60270-1法规，针对高电压试验技术中对局部放电测试要求，采用窄频滤波器 (Narrow- band) 量测技术进行PD放电量测量，并将量测 结果以直观数值 (pC) 显示在荧幕上让使用者清 楚明了待测物测试判定结果。

　　产品设计上，除了符合IEC60270-1，同时也符合光耦合器IEC60747-5-5与VDE0884法规要求，内建IEC60747-5-5法规之测试方法于仪器内部，满足光耦合器产品生产测试需求，并提供使 用者便利的操作界面。

　　于生产线上执行高压测试时，如果待测物未能正 确及良好连接测试线，将导致测试结果失败甚至发生漏测的风险，因此在测试前确保待测物与测试线良好连接是非常重要的。Chroma独特之高压接触检查功能 (High Voltage Contact Check : HVCC) 系利用Kelvin测试方法针对高绝缘能力之 元件，于高压输出时同步进行接触检查，增加测 试有效性与生产效率。

　　在固体绝缘物中含有气隙或杂质混合在绝缘层时，额定工作高压状态下，由于较高的电场强度集中于气隙而产生局部放电 (Partial Discharge), 持续性的局部放电会长久劣化周遭绝缘材，而影 响电气产品之长久信赖性，而引起安全事故。

　　应用于电源系统之安规元件，如光耦合器，因考 量如果元件长时间发生局部放电对于绝缘材料的破坏，而发生绝缘失效的情况，进而引发使用者人身安全问题；因此，在IEC60747-5-5法规中提 及，于生产过程中 (Routine test) 必须100%执行 局部放电 (Partial discharge) 检测，在最大绝缘 电压条件下不能超过5pC放电量，确保产品在正 常工作环境中不会发生局部放电现象。

　　局部放电测试器主要针对高压光耦合器、高压继电器及高压开关等高绝缘耐受力之元件，提供高压的耐压测试与局部放电侦测，确保产品质量与提升产品可靠度。

单机内建交流耐压测试与局部放电侦测功能

可程序交流耐压输出 0.1kVac~10kVac

高精度及高分辨率电流表 0.01µA~300µA

局部放电(PD)侦测范围 1pC~2000pC

高压接触检查功能( HVCC)

符合IEC60747-5-5、VDE0884、IEC 60270法规测试要求

内建IEC60747-5-5测试方法

量测与显示单元分离式设计

三段电压测试功能

PD测量结果数值显示 (pC)

PD不良发生次数判定设定 (1~10)

多语系繁中/ 简中/英文操作界面

USB画面撷取功能

图形化辅助编辑功能

规格表